專利名稱 非成像系統(tǒng)的光軸一致性校準和裂像定焦裝調裝置及方法
申請?zhí)?專利號 CN201910455989.8 專利權人(第一權利人) 長春理工大學
申請日 2019-05-29 授權日 2020-12-22
專利類別 授權發(fā)明 戰(zhàn)略新興產業(yè)分類 高端裝備制造
技術主題 物鏡|近紅外|偏振片|紅外探測器|棱鏡|干涉濾光片|光軸|光路|偏振|材料科學|光譜|準直器|濾光片|數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)|光學系統(tǒng)|光導纖維|波片|成像光學系統(tǒng)
應用領域 測試光學性能
意向價格 具體面議
專利概述 非成像系統(tǒng)的光軸一致性校準及裂像定焦裝調裝置及方法,為了解決現(xiàn)有技術無法應用于高精度非成像光學系統(tǒng)的光軸一致性校準問題,該裝置由衰減系統(tǒng)、望遠系統(tǒng)、四分之一波片、偏振分光棱鏡、起偏器、離軸全反射式光纖準直鏡、FC光纖接口、寬光譜照明光源、全介質干涉濾光片、一次成像物鏡、裂像抽插裝置、平行平板、裂像對焦屏、二次成像鏡組、近紅外探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構成;大口徑望遠系統(tǒng)與光路設置保證了該發(fā)明裝置與待測設備姿態(tài)不變;近紅外探測器保證測量背景的一致性;在此基礎之上所設置的寬光譜照明光源經由該發(fā)明裝置可出射全口徑平行光,對于在該發(fā)明裝置口徑之內的非成像光學系統(tǒng)的光軸一致性測量與裝調均適用。
圖片資料 非成像系統(tǒng)的光軸一致性校準和裂像定焦裝調裝置及方法
合作方式 擬轉讓
聯(lián)系人 戚梅宇 聯(lián)系電話 13074363281